Geen omslagfoto beschikbaar

Materials characterization: introduction to microscopic and spectroscopic methods

Door

Inhoud

Light microscopy -- X-ray diffraction methods -- Transmission electron microscopy -- Scanning electron microscopy -- Scanning probe microscopy -- X-ray spectroscopy for elemental analysis -- Electron spectroscopy for surface analysis -- Secondary ion mass spectrometry for surface analysis -- Vibrational spectroscopy for molecular analysis -- Thermal analysis.

Uitgever

  • Uitgave

    Weinheim: Wiley-VCH, 2013

  • Jaar

Gaat over

  • Onderwerp

Type

  • Taal

Classificatie

  • ISBN

    • 9783527334636
    • 9783527670802
    • 3527334637
    • 3527670807

Duurzaam webadres

Visite

Deze publicatie is afkomstig uit de bibliotheek van het Rijksmuseum. Wie onderzoek wil doen naar of met behulp van de collecties van het Rijksmuseum is welkom in de Rijksmuseum Research Library en Study Room Prints & Drawings.
Bekijk in bibliotheek